Olympus lança novo analisador portátil de XRF

27.05.2020

O novo analisador manual por fluorescência de raios X (XRF) Vanta Element-S oferece detecção rápida de elementos leves a um preço acessível, juntando-se à família de entrada de instrumentos por XRF Vanta Element. O modelo S é equipado com um detector de desvio de silício (SDD) para analisar elementos leves como magnésio (Mg), alumínio (Al), silício (Si), enxofre (S) e fósforo (P) em ligas.

Ideal para reciclagem de sucata, PMI básico, fabricação de metais e metais preciosos, o Vanta Element-S mede efetivamente metais ferrosos, alumínio, cobre, aço inoxidável, níquel e quilates de ouro. O analisador oferece a identificação de classe na tela e a comparação clara dos elementos leves Mg, Al e Si em segundos. Seu detector SDD pode distinguir graus de liga semelhantes, como aço inoxidável 303 de 304 e alumínio 6061 ou 6063 de 1100.